Перейти к контенту

Абсолютная и относительная погрешность СИ


25 сообщений в этой теме

Рекомендуемые сообщения

Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы,  отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы  0,50%" при определенном оптическом увеличении.

Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана.

Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%.

Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы  равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ.

Буду благодарен за разъяснения!

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

20 минут назад, Alex25 сказал:

Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы,  отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы  0,50%" при определенном оптическом увеличении.

Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана.

Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%.

Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы  равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ.

Буду благодарен за разъяснения!

У вас в вопросе сначала фигурирует СИ, затем уже "действующая система". Много тут загадочного.

зы

Напоминает измерения счётной концентрации частиц..

У вас требования к системе измерений относится к какой величине?

 

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

1 час назад, Alex25 сказал:

Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы,  отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы  0,50%" при определенном оптическом увеличении.

Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана.

Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%.

Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы  равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ.

Буду благодарен за разъяснения!

Уточните, что у вас за система: наименование, для чего предназначена, технические и метрологические характеристики? Есть документы какие-либо? 

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

1 час назад, AtaVist сказал:

У вас в вопросе сначала фигурирует СИ, затем уже "действующая система". Много тут загадочного.

зы

Напоминает измерения счётной концентрации частиц..

У вас требования к системе измерений относится к какой величине?

 

AtaVist, есть разработанная СИ, которая работает, с прописанной характеристикой абсолютной погрешостью +/- 0,6 мкм.

И есть предоставленное требование выраженное в "относительной погрешности равное 0,50% при определенном оптическом увеличении".

Вопрос: Проходит ли действующая СИ  по данному требованию, и какой уровень относительной погрешности будет примениним к действующая СИ.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

4 минуты назад, Alex25 сказал:

AtaVist, есть разработанная СИ, которая работает, с прописанной характеристикой абсолютной погрешостью +/- 0,6 мкм.

И есть предоставленное требование выраженное в "относительной погрешности равное 0,50% при определенном оптическом увеличении".

Вопрос: Проходит ли действующая СИ  по данному требованию, и какой уровень относительной погрешности будет примениним к действующая СИ.

Требования к измерению какой величины?

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

35 минут назад, Семен Кирюшин сказал:

Уточните, что у вас за система: наименование, для чего предназначена, технические и метрологические характеристики? Есть документы какие-либо? 

СИ - предназначена для проведения измерений при помощи микроскопа, с учетом заданного увеличения. Метрологические характеристики:

1. Диапазон измерений линейных размеров, мкм : от 0 до 3000

2. Предел допускаемой абсолютной  погрешности измерений:   +/- 0,6 мкм

Технические характеристики - габариты, температурные условия эксплуатации, масса, параметры электропитания - думаю будут лишними.

 

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

33 минуты назад, AtaVist сказал:

Требования к измерению какой величины?

В том то и дело конкретной величины не задано, задано только "допустимая относительная погрешность равная 0,50% при увеличении свыше 400 крат.

Изменено пользователем Alex25
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

7 минут назад, Alex25 сказал:

В том то и дело конкретной величины не задано, задано только "допустимая относительная погрешность равная 0,50% при увеличении до 400 крат.

Не понимаю..Это же требование где-то прописано? Что измеряете? Размер частиц, может быть сито контролируете...

 

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

13 минут назад, AtaVist сказал:

Не понимаю..Это же требование где-то прописано? Что измеряете? Размер частиц, может быть сито контролируете...

 

Измерятся может теоретически все что угодно, и частицы и включения в стркутуре металла. Но требования относится в общем к СИ, четкой привязки к какому-то конкретному объекту нет.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

1 час назад, Alex25 сказал:

Измерятся может теоретически все что угодно, и частицы и включения в стркутуре металла. Но требования относится в общем к СИ, четкой привязки к какому-то конкретному объекту нет.

Давайте по другому.

Минимальный размер 1200 мкм (ограничен абсолютной  погрешностью измерений:   +/- 0,6 мкм), максимальный размер 3000 мкм (ограничен характеристиками вашего СИ).

В этом диапазоне у вас относительная погрешность менее 0,5%.

А подходит или нет это вам решать.

Хватает заданного диапазона = подходит.

Не хватает - не подходит.

Что вас смущает?

Изменено пользователем Влдмир
изменено 120 мк на 1200 мкм
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

1 час назад, Alex25 сказал:

СИ - предназначена для проведения измерений при помощи микроскопа, с учетом заданного увеличения. Метрологические характеристики:

1. Диапазон измерений линейных размеров, мкм : от 0 до 3000

2. Предел допускаемой абсолютной  погрешности измерений:   +/- 0,6 мкм

Технические характеристики - габариты, температурные условия эксплуатации, масса, параметры электропитания - думаю будут лишними.

 

Я так понимаю, что это система применяется для измерения толщин покрытий (типа металлографического микроскопа). Вы пишите, что относительная погрешность только для увеличения в 400 крат, т.е получается, что на другие увеличения это требования не распространяется? Используемая вами система разработана чисто по вашему заказу? Или имеет более широкое применение? Плюс важно узнать для измерений каких именно размеров вы планируете ее использовать, чтобы узнать удовлетворяет она вашим требованиям или нет. Даже если на 3 мм мы имеем 0.5 процента (а это всего 15 микрон), то по мне вполне ничего.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

41 минуту назад, Влдмир сказал:

Давайте по другому.

Минимальный размер 120 мкм (ограничен абсолютной  погрешностью измерений:   +/- 0,6 мкм), максимальный размер 3000 мкм (ограничен характеристиками вашего СИ).

В этом диапазоне у вас относительная погрешность менее 0,5%.

А подходит или нет это вам решать.

Хватает заданного диапазона = подходит.

Не хватает - не подходит.

Что вас смущает?

Смущает следующее:

Я понимаю, что здесь есть диапазон с которого мы имеем требуемую погрешность которая начинается от измерения в 120 мкм, и в этом случае мы удовлетворяем условиям поставленной задачи.

НО! В требовании нет ни слова об измеряемых величинах, есть только условие об использованном увеличении (400 крат). Либо в текущем требовании не хватает условий для правильной трактовки, и определения  подходит ли СИ под задачи.

Как с точки зрения метрологии нужно трактовать такие условия.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

33 минуты назад, Семен Кирюшин сказал:

Я так понимаю, что это система применяется для измерения толщин покрытий (типа металлографического микроскопа). Вы пишите, что относительная погрешность только для увеличения в 400 крат, т.е получается, что на другие увеличения это требования не распространяется? Используемая вами система разработана чисто по вашему заказу? Или имеет более широкое применение? Плюс важно узнать для измерений каких именно размеров вы планируете ее использовать, чтобы узнать удовлетворяет она вашим требованиям или нет. Даже если на 3 мм мы имеем 0.5 процента (а это всего 15 микрон), то по мне вполне ничего.

 СИ может быть использована для любых измерений, в том числе и толщины покрытий, микро включений в металл, размерности до 25 мкм. Требование распространяется на диапазон от 400 -1000 крат. Система по сути универсальна и имеет широкое применение в разных областях. Можем ли трактовать условие следующим образом. Действующая система подходит под данное требование – не зависимо от увеличения (но при условии измерения от 120 мкм)

Изменено пользователем Alex25
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

36 минут назад, Alex25 сказал:

Смущает следующее:

Я понимаю, что здесь есть диапазон с которого мы имеем требуемую погрешность которая начинается от измерения в 120 мкм, и в этом случае мы удовлетворяем условиям поставленной задачи.

НО! В требовании нет ни слова об измеряемых величинах, есть только условие об использованном увеличении (400 крат). Либо в текущем требовании не хватает условий для правильной трактовки, и определения  подходит ли СИ под задачи.

Как с точки зрения метрологии нужно трактовать такие условия.

Замечание. 6 мкм от 120 мкм это 5%. При 0,5% минимум будет 1200 мкм.

У вас общие требования. Измеряемые величины появятся только когда будет поставлена конкретная задача.  Тогда и будет видно подходит или нет.

Я не сталкивался с подобными СИ.

Поэтому у меня возник вопрос вопрос: а в диапазоне от1200 мкм до 3000 мкм будет ли достигнуто увеличение 400 крат? Не будет ли много.

Или 0,5% это требование только для диапазона увеличения 400-1000 крат? А за этим диапазоном точность не номируется.

Изменено пользователем Влдмир
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

32 минуты назад, Влдмир сказал:

Замечание. 6 мкм от 120 мкм это 5%. При 0,5% минимум будет 1200 мкм.

У вас общие требования. Измеряемые величины появятся только когда будет поставлена конкретная задача.  Тогда и будет видно подходит или нет.

Я не сталкивался с подобными СИ.

Поэтому у меня возник вопрос вопрос: а в диапазоне от1200 мкм до 3000 мкм будет ли достигнуто увеличение 400 крат? Не будет ли много.

Или 0,5% это требование только для диапазона увеличения 400-1000 крат? А за этим диапазоном точность не номируется.

Погрешность Абсолютная +-0,6 мкм, требуемая относительная погрешность 0,5%.

Данная СИ имеет возможность провести съемку и склейку кадров – что это нам дает. Допустим поле зрения у нас всего 100 мкм (мы ограничены в видимом поле), но со склейкой мы уже имеем поле зрения для исследований 3000 мкм. Требование привязано диапазону 400-1000 крат. За этим диапазоном она будет, увеличиваться в геометрической прогрессии.

Если в требовании не прописана задача, то опять же можем считать что существующая СИ подходит.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

47 минут назад, Alex25 сказал:

 СИ может быть использована для любых измерений, в том числе и толщины покрытий, микро включений в металл, размерности до 25 мкм. Требование распространяется на диапазон от 400 -1000 крат. Система по сути универсальна и имеет широкое применение в разных областях. Можем ли трактовать условие следующим образом. Действующая система подходит под данное требование – не зависимо от увеличения (но при условии измерения от 120 мкм)

Так с измерительной задачей мы разобрались: нужный диапазон измерений до 25 мкм. В остальном, я так ничего не понял))) пришлите скрин или ссылку на техническую документацию, где указаны данные характеристики. Надо почитать, чтобы понять контекст.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

4 минуты назад, Alex25 сказал:

Погрешность Абсолютная +-0,6 мкм, требуемая относительная погрешность 0,5%.

Данная СИ имеет возможность провести съемку и склейку кадров – что это нам дает. Допустим поле зрения у нас всего 100 мкм (мы ограничены в видимом поле), но со склейкой мы уже имеем поле зрения для исследований 3000 мкм. Требование привязано диапазону 400-1000 крат. За этим диапазоном она будет, увеличиваться в геометрической прогрессии.

Если в требовании не прописана задача, то опять же можем считать что существующая СИ подходит.

Вот еще данные: требуемая при измерении относительная погрешность 0.5 процента. Для 25 мкм в абсолютных цифрах это 0.125 мкм, значит данная система для конкретного случая не подходит.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

32 минуты назад, Семен Кирюшин сказал:

н или ссылку на техническую документацию, где ук

image.thumb.png.6144977b2044f01ef4d9a6da006e97df.png

 

Изменено пользователем Alex25
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

32 минуты назад, Семен Кирюшин сказал:

Вот еще данные: требуемая при измерении относительная погрешность 0.5 процента. Для 25 мкм в абсолютных цифрах это 0.125 мкм, значит данная система для конкретного случая не подходит.

Семен, любая система будет иметь "рабочие диапазоны", не понимаю  как правильно провести корреляцию между увеличением  и применимостью прибора. Мне кажется что теоретически, под данное требование может подойти любая СИ с практически  любой погрешностью  от +-0,1 мкм до +-1 мкм. Не хватает условий применения, или требование должно было быть указано в абсолютной погрешности - тогда бы не было разночтений?

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

31 минуту назад, Alex25 сказал:

image.thumb.png.6144977b2044f01ef4d9a6da006e97df.png

 

Подскажите: название системы, производитель, может номер госреестра (если есть)?

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

51 минуту назад, Alex25 сказал:

...

Данная СИ имеет возможность провести съемку и склейку кадров – что это нам дает. Допустим поле зрения у нас всего 100 мкм (мы ограничены в видимом поле), но со склейкой мы уже имеем поле зрения для исследований 3000 мкм. Требование привязано диапазону 400-1000 крат. За этим диапазоном она будет, увеличиваться в геометрической прогрессии.

А в приведенных вами технических характеристиках ПО, погрешность 0,5% в диапазоне более 400 крат. И не о каком её увеличении в геометрической прогрессии не говорится.

51 минуту назад, Alex25 сказал:

Если в требовании не прописана задача, то опять же можем считать что существующая СИ подходит.

Это не так. Нет основания так считать. Если у вас нет ограничения диапазона измерений то подойдет СИ с абс. погр. и в 1000 мкм. И вообще любой.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

19 минут назад, Влдмир сказал:

А в приведенных вами технических характеристиках ПО, погрешность 0,5% в диапазоне более 400 крат. И не о каком её увеличении в геометрической прогрессии не говорится.

Относительная погрешность не может быть постоянной, она изменяется относительно длины измерения. Чем меньше измеряемый объект тем выше относительная погрешность.  И поэтому возникает вопрос, как применять данное требование с привязкой к увеличению?

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

23 минуты назад, Alex25 сказал:

Семен, любая система будет иметь "рабочие диапазоны", не понимаю  как правильно провести корреляцию между увеличением  и применимостью прибора.

По приведенных вами техническим характеристиках ПО:

-погрешность 0,25% в диапазоне до 400 крат включительно

 погрешность 0,5% в диапазоне более 400 крат. 

23 минуты назад, Alex25 сказал:

Мне кажется что теоретически, под данное требование может подойти любая СИ с практически  любой погрешностью  от +-0,1 мкм до +-1 мкм. 

При измерении менее 20 мкм вам не подойдет СИ с и абсолютной погрешностью 0,1 мкм.

23 минуты назад, Alex25 сказал:

Не хватает условий применения,

Да. Так и есть. Вы представляете диапазон измерений (условия применения). В нашем случае (при абс. погр.= 6мкм и относительной 0,5%) от 1200 мкм до 3000 мкм.

Попадают в этот диапазон ваши измерения = хорошо. Нет = ищите другое СИ.

23 минуты назад, Alex25 сказал:

или требование должно было быть указано в абсолютной погрешности - тогда бы не было разночтений?

Это вас не спасет. Можно указать допустимую погрешность не 0,5%, а 6 мкм.

 У вашего СИ диапазон измерений 0-3000 мкм. А если измерять придется 3500 мкм? Вы этого сейчас не знаете.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

5 минут назад, Alex25 сказал:

Относительная погрешность не может быть постоянной, она изменяется относительно длины измерения. Чем меньше измеряемый объект тем выше относительная погрешность.  И поэтому возникает вопрос, как применять данное требование с привязкой к увеличению?

Я написал вам на основании приведенных вами технических характеристиках ПО. Даже не написал, а процитировал.

Изменено пользователем Влдмир
Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

7 минут назад, Alex25 сказал:

Относительная погрешность не может быть постоянной, она изменяется относительно длины измерения.

Это вы про относительную прогр. конкретного СИ?

7 минут назад, Alex25 сказал:

Чем меньше измеряемый объект тем выше относительная погрешность.  И поэтому возникает вопрос, как применять данное требование с привязкой к увеличению?

Да ни как. У вас ограничение = 0,5%. Если вы по какой то причине выходите за эти пределы, то ищите другое СИ.

PS. Похоже что мы с вами о разном.

Ссылка на комментарий
Поделиться на других сайтах

Присоединиться к обсуждению

Вы можете ответить сейчас, а зарегистрироваться позже. Если у вас уже есть аккаунт, войдите, чтобы ответить от своего имени.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вы вставили отформатированный текст.   Удалить форматирование

  Допустимо не более 75 смайлов.

×   Ваша ссылка была автоматически заменена на медиа-контент.   Отображать как ссылку

×   Ваши публикации восстановлены.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставить изображения напрямую. Загрузите или вставьте изображения по ссылке.

Загрузка...

Информация

  • Недавно просматривали   0 пользователей

    • Ни один зарегистрированный пользователь не просматривает эту страницу.

×
×
  • Создать...