Спасибо!
Речь, конечно же не о полной замене, а об измерении больших деталей - либо закупить микроскоп с большей рабочей поверхностью (есть микроскоп УИМ23,но его рабочая поверхность до 100 мм) либо внедрить КИМ, которая сможет помочь и в ускорении проверки координат деталей сложной конфигурации (либо опять же вместо нее увеличить число сотрудников в дополнении к закупке микроскопа).