grad0ff

Я даже не знаю как вам теперь сказать. Это лабораторная работа, где для примера показаны 3 структуры. И одна из них относится к моему индивидуальному заданию. Вводя различные частоты по напряжению от 10 до 20000 Гц(остальные параметры неизменны), появляется график зависимости, показанный в первом сообщении. Затем нужно определить в соответствии со своим вариантом, при какой минимальной погрешности, система выдаст результат без сбоев. Когда требование будет выполнено, система выдает тип структуры и элементы, входящие в эту структуру. После необходимо ответить на контрольные вопросы.

Если коротко, то ситуация такая. Дана последовательная структура с разнотипными каналами: от объекта исследований идут 3 канала в 3 преобразователя, от них - в 3 усилителя. Затем - в 3 АЦП. От 3 АЦП в 1 аналоговый коммутатор. От коммутатора в устройство связи с объектом. Так же даны 3 параметра: 1) U=2 mV, f=10 кГц; 2) t=-120 +120 гр. C, f=10 Гц; 3) С=2 мкФ, f= 20 Гц; Так вот, изменяя частоту от 10 до 20000 Гц, появляется такой график зависимости погрешности от частоты. Мне нужно узнать, почему график зависимости неоднороден, почему при частоте меньше допустимой программа(syscad.exe) не выводит образец структуры, в какой области или при каких измерениях можно использовать такого рода структуры. Вот где-то так.

Люди добрые, помогите ответить на несколько вопросов по ИИС. 1. Чем можно объяснить неоднородный график зависимости погрешности от частоты (Рис. 1)? 2. Почему нельзя получить результат, если вводимая погрешность будет меньше допустимой? 3. Где можно использовать следующие подходы: а) использование последовательной структуры; б) последовательной структуры с разнотипными каналами; в) параллельной структуры?