Здравствуйте, уважаемые специалисты! Помогите разобраться вот с каким вопросом: Необходимо подтвердить обеспечение требований контролепригодности аналитическим расечтом по МУ  на этапе РКД. В МУ приведена оценка достоверности контроля: D=1-[Pи*Pл+(1-Pи)*Pн], где Рл - вероятность ложного отказа; Рн - вероятность необнаруженного отказа. В случае полного охвата контролем изделия и идеального СК, Рл=Рло и Рн=Рно. Рло - условная вероятность ложного отказа;