Екатерина Соколова

Заглянувшие
  • Число публикаций

    1
  • Регистрация

  • Последнее посещение

Репутация

0 Новичок

О Екатерина Соколова

  • Звание
    Новичок
  • День рождения 31.05.1995

Контакты

  • ICQ
    452989330

Информация

  • Пол
    жен
  • Город
    Санкт-Петербург
  • Имя, Отчество
    Екатерина Андреевна
  • Место работы
    ООО ИМЦ Микро
  • Должность
    Инженер

Недавние посетители профиля

169 просмотров профиля
  1. Екатерина Соколова

    Конференция "Метрология поверхности"

    23 и 24 апреля 2019 г. на базе Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого при поддержке инженерно-метрологического центра «Микро» состоится научно-практическая конференция "Метрология поверхности". Ориентировочный перечень выступлений: 1.«Исследования кафедры ИИСиТ МГТУ "СТАНКИН" в области микрогеометрии поверхности». Мастеренко Дмитрий, д.т.н., профессор кафедры ИИСиТ, МГТУ Станкин, г. Москва. 2. «Взаимосвязь функциональных свойств поверхностей деталей с параметрами текстуры поверхности». Степанов Сергей Николаевич, к.т.н., доцент кафедры «Технология машиностроения», СПБПУ, технический директор ООО ИМЦ «Микро», г. Санкт-Петербург. 3. «Трехкоординатные оптические системы измерения поверхности для промышленности и научных исследований». Олег Станиславович Лебеденко, руководитель направления ручных средств измерений Mahr в России. 4. «Высокоточные углоизмерительные приборы и системы». Бохман Евгений Давидович, генеральный директор ООО "ИНЕРТЕХ". 5. «Применение профилометров Mitutoyo с использованием контактных и бесконтактных методов измерения текстуры поверхности». Красильникова Александра Андреевна, менеджер по формоизмерительному оборудованию ООО «Митутойо РУС», г. Москва. 6. «Неопределённость измерений – это благо или лишняя работа». Тарасов Станислав Борисович, к.т.н., доцент кафедры «Технология машиностроения», СПБПУ, генеральный директор ООО ИМЦ «Микро», г. Санкт-Петербург. 7. «Лазерные измерительные системы (интерферометры) Lasertex HPI-3D. Их роль в современной метрологии и станкостроении. Основные виды измерений». Карчевский Сергей Леонидович, директор УП «Анток», г. Минск. 8. «Точные датчики марки ЛИР для линейных и угловых измерений. Гордеев Сергей Владимирович, главный метролог ОАО «СКБ ИС», г.Санкт-Петербург. 9. «СтатАналитика: управление качеством продукции на основе статистических методов, как элемент цифрового производства». Расцветаев Александр, ООО «Импэкс Крафт», г. Москва. 10. «Новые подходы к нормированию, измерению и оценке геометрии поверхности деталей на основе последних стандартов». Тарасов Станислав Борисович, к.т.н., доцент кафедры «Технология машиностроения», СПБПУ, генеральный директор ООО ИМЦ «Микро», г. Санкт-Петербург и др. Для вас будет организована развёрнутая экспозиция средств измерений. Регистрация участников 23 апреля 2019 г. в 9:15. Адрес: г. Санкт-Петербург, метро «Политехническая», ул. Политехническая, д. 29, АФ. Научно-исследовательский корпус СПбПУ, 2 этаж, конференц-зал. Для участия в конференции оставьте заявку по тел. (812) 981-49-65; (812) 534-68-82 или e-mail: imcmikro@mail.ru. В заявке укажите название организации, количество представителей и Ваш контактный тел.(e-mail), на который мы вышлем план места проведения конференции.