Alex25
-
Число публикаций
13 -
Регистрация
-
Последнее посещение
-
Всем доброго дня! Хотел бы услышать мнение квалифицированных специалистов. Существуют всем известные поверенные Объект-микрометры с заявленной абсолютной погрешностью 0,1 мкм. При этом в описании типа СИ видим следующие характеристики: 1. Длина основной шкалы, мм: 1,0000±0,0005 2. Количество интервалов основной шкалы: 200 (шаг в 5 мкм) 3. Расстояние между серединами соседних штрихов первых 10 делений шкалы ОМ, мм: 0,0050±0,0003 Что получаем если мы проводим измерение между двумя соседними штрихами (а по другому мы не можем провести измерение), то у нас выходит абсолютная погрешность равная 0,3 мкм! А если мы проведем измерение в 1 мм - то выйдет все 0,5 мкм! Дайте пожалуйста пояснение, как такое возможно?
-
Относительная погрешность не может быть постоянной, она изменяется относительно длины измерения. Чем меньше измеряемый объект тем выше относительная погрешность. И поэтому возникает вопрос, как применять данное требование с привязкой к увеличению?
-
Семен, любая система будет иметь "рабочие диапазоны", не понимаю как правильно провести корреляцию между увеличением и применимостью прибора. Мне кажется что теоретически, под данное требование может подойти любая СИ с практически любой погрешностью от +-0,1 мкм до +-1 мкм. Не хватает условий применения, или требование должно было быть указано в абсолютной погрешности - тогда бы не было разночтений?
-
-
Погрешность Абсолютная +-0,6 мкм, требуемая относительная погрешность 0,5%. Данная СИ имеет возможность провести съемку и склейку кадров – что это нам дает. Допустим поле зрения у нас всего 100 мкм (мы ограничены в видимом поле), но со склейкой мы уже имеем поле зрения для исследований 3000 мкм. Требование привязано диапазону 400-1000 крат. За этим диапазоном она будет, увеличиваться в геометрической прогрессии. Если в требовании не прописана задача, то опять же можем считать что существующая СИ подходит.
-
СИ может быть использована для любых измерений, в том числе и толщины покрытий, микро включений в металл, размерности до 25 мкм. Требование распространяется на диапазон от 400 -1000 крат. Система по сути универсальна и имеет широкое применение в разных областях. Можем ли трактовать условие следующим образом. Действующая система подходит под данное требование – не зависимо от увеличения (но при условии измерения от 120 мкм)
-
Смущает следующее: Я понимаю, что здесь есть диапазон с которого мы имеем требуемую погрешность которая начинается от измерения в 120 мкм, и в этом случае мы удовлетворяем условиям поставленной задачи. НО! В требовании нет ни слова об измеряемых величинах, есть только условие об использованном увеличении (400 крат). Либо в текущем требовании не хватает условий для правильной трактовки, и определения подходит ли СИ под задачи. Как с точки зрения метрологии нужно трактовать такие условия.
-
Измерятся может теоретически все что угодно, и частицы и включения в стркутуре металла. Но требования относится в общем к СИ, четкой привязки к какому-то конкретному объекту нет.
-
В том то и дело конкретной величины не задано, задано только "допустимая относительная погрешность равная 0,50% при увеличении свыше 400 крат.
-
СИ - предназначена для проведения измерений при помощи микроскопа, с учетом заданного увеличения. Метрологические характеристики: 1. Диапазон измерений линейных размеров, мкм : от 0 до 3000 2. Предел допускаемой абсолютной погрешности измерений: +/- 0,6 мкм Технические характеристики - габариты, температурные условия эксплуатации, масса, параметры электропитания - думаю будут лишними.
-
AtaVist, есть разработанная СИ, которая работает, с прописанной характеристикой абсолютной погрешостью +/- 0,6 мкм. И есть предоставленное требование выраженное в "относительной погрешности равное 0,50% при определенном оптическом увеличении". Вопрос: Проходит ли действующая СИ по данному требованию, и какой уровень относительной погрешности будет примениним к действующая СИ.
-
Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы, отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы 0,50%" при определенном оптическом увеличении. Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана. Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%. Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ. Буду благодарен за разъяснения!
-
Alex25 зарегистрировался на сайте
-
Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы, отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы 0,50%" при определенном оптическом увеличении. Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана. Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%. Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ. Буду благодарен за разъяснения!
