LIBorisi4

Пользователи
  • Число публикаций

    1 268
  • Регистрация

  • Последнее посещение

Репутация

63 Специалист

О LIBorisi4

  • Звание
    Наш человек

Информация

  • Пол
    муж
  • Город
    МО
  • Имя, Отчество
    Игорь
  • Место работы
    ИЛ
  • Должность
    Испытатель с метрологическим уклоном

Недавние посетители профиля

Блок недавних посетителей отключен и не доступен другим пользователям для просмотра.

  1. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    СТ СЭВ 2603-80 Аркадий Григорьевич, я прекрасно знаю, что такое испытания и ВВФ, это моя работа и прежде чем приводить все эти цитаты, Вы бы заглянули в ГОСТ 26883, на который есть ссылка в приведенном Вами стандарте, в котором приводится определение ВВФ. Еще раз повторюсь, если дефектоскоп применяется по своему прямому назначению, для обнаружения дефекта, то это не испытания и дефектоскоп не является ИО. Если Вам необходимо проверить влияние магнитного поля, возможного при эксплуатации изделия и Вы не нашли ни чего лучшего, как использовать дефектоскоп для воспроизведения этого поля, то дефектоскоп будет применяться в качестве ИО. Вот в этом и проблема, что у нас видят только поверку и аттестацию и пытаются "притягивать за уши" те или иные ТС к СИ или ИО. А зачем? Есть определения СИ, есть определения ИО, все что не подпадает под них - ну не являются они ими. Если в методах испытаний нет прямых ссылок на аттестацию, то сами определить порядок, как подтверждать возможность использования и все.
  2. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    И с этим никто не спорит, но если требуется больше.... Но её делают не для проверки влияния. Не работал, но раз дефектоскоп, то средством контроля, а если с его помощью можно и определить координаты и размеры, то средством измерения.
  3. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    А с этим кто спорит? Из-за воздействия, под воздействием, но именно температура стала причиной возникновения дефекта. В том, что это дефект отливки и мы хотим его обнаружить полем, которое не может негативно сказаться на объекте. Может быть при определённых условиях, но не дефектоскоп, как таковой. Неразрушающим контроль.
  4. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    А мне нет. Каждый думает в меру.... А чем контроль будет отличаться при разных способах зачатия? Результат при положительном исходе один. Главное, чтобы кон роль не оказал того, что не требуется....
  5. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    Интересно, где я писал, что поле не влияет? Я говорил и говорю, что в данном случае проверяется ни его влияние на объект, мы прекрасно знаем, что поле не вызовет возникновение дефекта, мы лишь хотим с помощью поля найти его, если он есть. Каждый раз, делая флюорографию, Вы не проверяете как она на Вас влияет, Вы хотите хотите убедиться, что у Вас нет дефектов. Или Вы ставите перед собой другую цель?
  6. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    Интересно, а как этот словарь определяет ИО, так же как ГОСТ? Перечисленные авторы в свое время не читали данного ГОСТа и утверждать, что испытания в их понимании и в понимании поздних ГОСТ одно и тоже, может они говорили про метод неразрушающего контроля, как сейчас. Аркадий Григорьевич, при испытаниях проверяется реакция объекта на воздействующие факторы, а в случае дефектоскопа влияние поля не проверяется, а поле нужно для обнаружения дефекта.
  7. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    А не наоборот? Примечание говорит о том, что испытание включает.... Провели испытание, воздействовали на объект, затем сделали контроль, чтобы проверить, как воздействие отразилось на объекте. Аркадий Григорьевич, Вы же везде пишите, контроль, контроль.... Это метод контроля и если для его осуществления требуется воздействовать магнитным полем.... разве это будет испытанием? Ведь не проверяется его (поля) воздействие.
  8. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    Неувязочка получается. Объект, возможно, уже с дефектом, а испытания - это проверка реакции на воздействие. Так не объект реагирует на поле, а поле на дефект в объекте.. Вот если при воздействии на объект магнитным полем, требуется определить как себя он будет вести, то да, магнитное поле будет являться воздействующим фактором, а ТС, его вырабатывающее будет являться ИО. А в данном случае, у нас дефектоскоп, ТС, призванное обнаружить реакцию на воздействие другого фактора или без воздействия вообще. Обнаружение дефекта - это не испытания.
  9. LIBorisi4

    Переход к однократным измерениям

    А разве в данном случае проверяется влияние магнитного поля? Или магнитное поле, все-таки, нужно для другого?
  10. Аркадий Григорьевич, был вопрос Был дан ответ и отсылка к файлу, в котором говорится, как может быть задана требуемая точность только лишь записью числа (у автора 15 кг). потом опять вопрос Очередной ответ с цитатой о том, что числовое значение величин должно указываться с требуемой точностью (у автора указано 15 кг). Аркадий Григорьевич, если по записи числового значения можно определить требуемую точность (какое в итоге может быть значение величины), то какое использовать СИ для определения этого значения тоже можно. О чем и было сказано в поем первом посте.
  11. Теперь будете знать. Чтобы не быть голословным:
  12. LIBorisi4

    Первичная аттестация ИО при ПК

    Прежде чем такое писать, надо посмотреть НД на ТС и на метод испытаний. Ну уж не измеряют точно. Если Вам действительно нужна аттестация и есть лишние деньги, то можете им носить дальше. Повторюсь, не все, что применяется при испытаниях требует поверки/калибровки и аттестации.
  13. Теперь будете знать.
  14. Понимаете в чем дело, сама запись числа говорит о многом. "Не более 15 кг" и "Не более 15,0 кг" предъявляют разные требования к массе изделия. Т.к. "не более", то в меньшую сторону нас не волнует, а в "большую" в первом случае допустимое превышение может быть до 0,4 кг, а во втором до 0,04 кг. Как видно разница существенная. Для первого случая нужно СИ с погрешностью не более 0,4/3=0,13 кг, а втором не более 0,04/3=0,013 кг. Про запись числа, почему-то, всегда забывают. Ознакомитесь, полезно: Запись и округление числа.pdf