Alex25 0 Опубликовано 27 Октября 2022 Жалоба Поделиться Опубликовано 27 Октября 2022 Всем доброго дня, помогите разобраться в вопросе. Существует требование к Системе Измерений (СИ), состоящей из микроскопа и измеряющей программы, отраженное в "Пределе допускаемой относительной погрешности измерительной системы 0,50%" при определенном оптическом увеличении. Так же имеем действующую СИ, где прописана абсолютная погрешность равная +/- 0,6 мкм, характеристика относительной погрешности не прописана. Если начинаем расчет Относительной погрешность, от Абсолютной (шаг 1 мкм), то выходит следующий ряд чисел 120,00% 60,00% 30,00% 20,00% 15,00% 12,00% 10,00% ....... 0,50%. Вопрос: Имея действующую СИ с погрешностью +/- 0,6, предел допускаемой относительной погрешности измерительной системы равной 0,50%, достигается примерно при измерении 120 мкм. Можем ли мы считать действующую систему подходящую под условия относительной погрешности 0,50%? (Суть в том что если бы мы использовали только микроскоп - то тогда мы ограничены полем зрения микроскопа, когда мы используем программу , у нас этих ограничений нет, и на любом увеличении мы можем проводить измерения значительно большие видимого поля зрения микроскопа.) Не совсем понимаю суть данного требования, и правило его применения к существующей СИ. Буду благодарен за разъяснения! Цитата Ссылка на комментарий Поделиться на других сайтах Прочее
1 сообщение в этой теме
Рекомендуемые сообщения
Присоединиться к обсуждению
Вы можете ответить сейчас, а зарегистрироваться позже. Если у вас уже есть аккаунт, войдите, чтобы ответить от своего имени.