AtaVist

а я думал мы про маркировку СИ

Ваша задача как завода не меры принимать, а не допускать использования техсредств не соответствующего статуса. Если из-за неповеренного во время киловольтметра убьет слесаря испытателя кому-то будет легче от ваших мер?

Какая разница в каком документе требования? Вопрос о статусе техсредств. СИ, СК, индикаторы/детекторы лишь частность.

А он их не собрал. И не передал. А рабочему "начхать" и при летучем контроле ВП проверил статус техсредства и убедившись, что оно просрочено останавливает приемку. Во веселая жизнь.

Да причем здесь ФИФ, ФИФ это частность, есть еще СК, например. Да, было прописано, что перед началом работ убедиться - рабочее место оснащено техсредствами соответствующего статуса. На определенных лестницах тоже должна была быть бирка, если что.

Чай пить с печеньками, странный вопрос.

Детский сад? Это вы лично метрологов подряжаете, чтобы они на автобусе проехали в цех и соблюли график? ?

Я правильно понимаю, что в таком случае рабочий прежде чем провести измерение должен зайти в ФИФ и убедиться, что штанген пока еще годен?

У меня был сильфон, у которого вершинка имела толщину с полем допуска 2 мкм.

Набоков отдыхает ? Занятная формулировка.

Встречаются два новых русских. Один другому - Слушай, а не хочешь купить вагон сахара? Второй почесал репу и грит: - А почему нет? Куплю. По рукам. И разошлись... Один искать деньги, второй - вагон сахара...(с)

Нет, конечно =)) Это же не КИМ.. Задача КИМ определить координаты точки в пространстве, затем уже математическая обработка. Точку "нащупать" можно по разному - контактным методом (щуп), лазерным лучом - (лазерный датчик), или с помощью оптики по фокусному расстоянию (у меня есть все эти три варианта). У каждого варианта свои особенности, свои дополнительные погрешности. Например, при контактом методе без разницы блестящая поверхность или нет, а для лазера и фокуса это важно. При этом есть материалы для которых контактный метод неприменим в принципе. И так далее и тому подобное.

Смотря какая КИМ и смотря как подойти к вопросу. Ещё ведь есть бесконтактные КИМ (лазер, фокус) , мультисенсорные системы и прочее и прочее

Вы, коллега, просто ретроград. Рулетка. Это еще зачем? Метод пристального всматривания наше всё!

Я в своей жизни аттестовывал немало методик, то, что вы говорите мне странно слышать ? Тем более, когда дело касается КИМ с набором щупов. При этом у нас серия, оборудование занято 24/7

Точнее так "аттестовать методики измерений не проблема и на это можно потратить целую жизнь"

Без КД ответ - ЧЗ (черт знает).

У КИМ не нормировано измерение отклонения от плоскостности, с какой погрешностью проводим измерения - одному богу известно. Хотя это касается практически всех измерений на КИМ.

Что же здесь нормального? ? Угол в 150 градусов и угол в 30 градусов одно и тоже, смотря как отсчитывать. Это я с разной погрешностью измерю?=)

Вы знаете, что такое микроны? ps отмазаться..

Да тут дело еще в том, что в процентах погрешность. И на все линейно-угловые эти проценты и прописали.. И на длину и на плоский угол.. В результате с ВП договорились на этот приказ забить. Что с ним делать нет понимания ни у них ни у меня. Ах да, на всяк случай, если припрет, выпускаем общую справку, что всё соответствует этому приказу и подписываем. Но пока тишина. ps Кстати, а кто то встречал СИ у которого нормированы характеристики по измерению отклонения от плоскостности?=)

По этому докУменту, я отклонение от плоскостности должен измерить с погрешностью не хуже 0,02%

Ненене, этот приказ нельзя упомянать всуе. Читать его тоже самое, что Некрономикон.

ОКР это зачастую нестандартное и ..веселое..

Нет, это был не вагон и не разгрузка, это была калибровка