Перейти к контенту

6 сообщений в этой теме

Рекомендуемые сообщения

Опубликовано

Добрый день!

Разработчики обратились с вопросом по методике измерения параметра ЭФФЕКТИВНОЙ РАЗРЯДНОСТИ АЦП. Их интересует, существует ли такая стандартная или аттестованная методика измерений ? Наличие аттестованной методики в соответствии с ГОСТ 8.563 необходимо проверять в Федеральном Информационном фонде по ОЕИ. При поиске на нем, не обнаружил аттестованной методики.

Существует ли методика для данного измерения, или разработчики должны разработать ее самостоятельно?

Заранее спасибо!)

  • Специалисты
Опубликовано

Если они нормальные разработчики, чуть-чуть разбирающиеся в основах ЦОС, то им это без надобности - они с закрытыми глазами ночью ответят, что это такое и что определяется оно при разработке, в крайнем случае испытаниях (если речь о шумах), а официально сей вопрос поднимать смешно, ибо в разделе "технические характеристики" документации изделий упоминать этот параметр не нужно... ;)

Опубликовано

Если они нормальные разработчики, чуть-чуть разбирающиеся в основах ЦОС, то им это без надобности - они с закрытыми глазами ночью ответят, что это такое и что определяется оно при разработке, в крайнем случае испытаниях (если речь о шумах), а официально сей вопрос поднимать смешно, ибо в разделе "технические характеристики" документации изделий упоминать этот параметр не нужно... ;)/>/>/>

Дело в том, что у по заданию в конструкторской документации необходимо проводить измерения параметров микросхемы. Для этого нужно измерить этот параметр . Для подтверждения правильности их измерений необходимо сослаться на методику, если таковая есть, если нет, то необходимо ее разработать.

  • Специалисты
Опубликовано

Дело в том, что у по заданию в конструкторской документации необходимо проводить измерения параметров микросхемы.

Каждый разработчик обязан знать некоторые основы....

Есть стандарт IEEE-1241, устанавливающему список характеристик АЦП и процедуры испытаний....

Пусть прочитают хотя бы это Моя ссылка

  • Специалисты
Опубликовано

Разработчики обратились с вопросом по методике измерения параметра ЭФФЕКТИВНОЙ РАЗРЯДНОСТИ АЦП. Их интересует, существует ли такая стандартная или аттестованная методика измерений ?

подобный стандарт разработан и утвержден в Росатоме

Опубликовано

Дело в том, что у по заданию в конструкторской документации необходимо проводить измерения параметров микросхемы.

Каждый разработчик обязан знать некоторые основы....

Есть стандарт IEEE-1241, устанавливающему список характеристик АЦП и процедуры испытаний....

Пусть прочитают хотя бы это Моя ссылка

Немного не так сформулировал вопрос. Разрабатывают АЦП, одним из параметров является параметр эффективной разрядности. Для подтверждения корректности выполнения измерения необходимо пользоваться стандартной или аттестованной методикой. Если таких методик не существует, то необходимо её разработать.

Присоединиться к обсуждению

Вы можете ответить сейчас, а зарегистрироваться позже. Если у вас уже есть аккаунт, войдите, чтобы ответить от своего имени.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вы вставили отформатированный текст.   Удалить форматирование

  Допустимо не более 75 смайлов.

×   Ваша ссылка была автоматически заменена на медиа-контент.   Отображать как ссылку

×   Ваши публикации восстановлены.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставить изображения напрямую. Загрузите или вставьте изображения по ссылке.

Загрузка...

Информация

  • Недавно просматривали   0 пользователей

    • Ни один зарегистрированный пользователь не просматривает эту страницу.
×
×
  • Создать...