Вопросы по МИ 3290-2010 и МИ 3286-2010

[Дмитрий Борисович 1016]

....

Дмитрий Борисович, я и пытался донести до Вас информацию о том, что Испытатель требует информацию о СИ, включая ПО, исходя из действующих НТД и опыта работы. ....

Вот именно - действующих НТД!

Действующий закон ФЗ№102 говорит - в НЕБХОДИМЫХ случаях....

Действующая МИ 3290-2010 говорит - может быть также при необходимости предусмотрена оценка....

Испытатель говорит - дайте обязательно...., а то не поймут.

Поэтому необходимо общими усилиями Испытателя и Заявителя решать возникающие проблемы

Поэтому сижу и пишу сам проект Испытаний по проверке влияния программного обеспечения на метрологические характеристики!

Поимите правильно, что я хочу сказать.

Напрнимер я приводил документ ФГУ "32 ГНИИИ Минобороны России", который определяет источники погрешностей ПО

(сообщение от 14 Февраль 2011 - 10:47). Источники погрешности указаны ПРАВИЛЬНО!

НО!

Это проверяется НЕ НА ЭТАПЕ УТВЕРЖДЕНИЯ ТИПА!!!!!!

Это проверяется даже не при проведении ОКР!!!

Телега в переди лошади НЕ МОЖЕТ стоять!!!

Все эти расчеты делаются на этапе выполнения НИР, в худщем случае при промежуточном этапе - этапе эскизного проекта!

И не один месяц разработчики просчитывают кокой выбрать микроконтроллер, микропроцессор, вычислитель. Какой

разрядностью пользоватся при расчете результата измерения, какова при этом будет погрешность. Просчитывается какими

числами пользоваться - целыми, с фиксированной запятой, с плавающей запятой. Просчитываются погрешности при вычислении

элементарных функций, если НЕЛЬЗЯ воспользоваться стандартной библиотекой ( требуется высокая скорость обработки)...

И вот когда это всё проделано, только тогда приступают к разработке конструкторской и технологической документации.

И только потом проводят испытания с целью утверждения типа СИ.

Провел на днях "ТЕСТ-опрос" специалистов по ПО - какова точность их вычислений и какими алгоритмами при расчете

элементарных функций вы пользуетесь?

Получил некоторый срез:

- кто занимается программированием на языке СИ для одноплатных платформ ARM7 , ARM9 (или аналогичных) вообще не

задумываются о точности расчетов. Есть готовые библиотеки подпрограмм которые обеспечивают 10Е-11....10Е-15

относительную ошибку счета! Чего проверяем при испытаниях????

- кто занимается однокристальными процессорами или контроллерами зависит также от языка программирования, требований

по скорости вычисления и числами с которыми работают.90% случаев при расчете функций это стандартные библиотеки с

уже давно проверенной точностью и рекомендованные фирмами-разработчиками этих процессоров.

- остальные 10% это уникальные случаи особенно для средств измерения ( хоть даже и военного назначения).

Протестировать эти приложения на испытаниях типа - очень сомнительная вещь....

Прошли времена когда в начале 80-х мы создавали подпрограммы умножения, деления, корень квадратный сами, высчитывая

скорости и точности! Всё это уже давно набор стандартных подпрограмм!!!

Но вот почемуто раньше мало кого волновало влияние ПО на метрологические характеристики прибора. Прибор воспринимали

как "черный ящик" и стандартными метрологическими способами проводили испытания!

Но когда повысилась "компьютерная грамотность" населения, когда ПК стал неотемлемой частью рабочего стола - ВСЕМ

сразу захотелость принять участие в тестировании ПО.

Простите за длинное послание ( уважаемый Владимир Алексеевич! не цитируйте мои послания полностью...тяжело потом

читать ответ).

Но продолжу! Накипело!

Цель определения влияния ПО на метрологические характеристики?

Всетаки сделать вывод:

- программное обеспечение данного СИ не вносит влияния в метрологические характеристики.ТАК?

- программное обеспечение вносит влияние в метрологические характеристики.Дополнительная погрешность вычисления

результата измерения за счет программного обеспечения +/-Х,ХХ% ( или ХХ единиц счета.). ТАК??

- программное обеспечение определяет метрологические характеристики СИ и обеспечивает поддержание их в установленных

пределах при воздействии дестабилизирующих факторов.ТАК?

Пока по некоторым документам видно только одно - ПО не влияет на метрологические характеристики!!!

А для чего его тогда встраивали и разрабатывали? Модно???

[Маслов В.А. 101]

Цель определения влияния ПО на метрологические характеристики?

Всетаки сделать вывод:

- программное обеспечение данного СИ не вносит влияния в метрологические характеристики.ТАК?

- программное обеспечение вносит влияние в метрологические характеристики.Дополнительная погрешность вычисления

результата измерения за счет программного обеспечения +/-Х,ХХ% ( или ХХ единиц счета.). ТАК??

- программное обеспечение определяет метрологические характеристики СИ и обеспечивает поддержание их в установленных

пределах при воздействии дестабилизирующих факторов.ТАК?

Пока по некоторым документам видно только одно - ПО не влияет на метрологические характеристики!!!

А для чего его тогда встраивали и разрабатывали? Модно???

Во-первых, я указывал, не только действующие НТД, но и опыт работы.

В нашем обмене мнениями я уже отвечал на вопрос об определении влияния ПО на метрологические характеристики. В большинстве случаев для ПО встроенного в СИ, особенно измеряющего один параметр, достаточно исследование его как "черного ящика". Но в некоторых случаях создать необходимые значения эталонной величины для данного исследования затруднительно или невозможно. Вот тогда дополнительно необходим анализ реализации (численной) алгоритмов, используемых в ПО данного СИ. И вообще, предоставление Изготовителем информации о реализации примененного в СИ метода измерения помогает Испытателю более обоснованно определить состав и методы (Программу) испытаний. Но это моя точка зрения на этот вопрос.

[Дмитрий Борисович 1016]

Но в некоторых случаях создать необходимые значения эталонной величины для данного исследования затруднительно или

невозможно. Вот тогда дополнительно необходим анализ реализации (численной) алгоритмов, используемых в ПО данного СИ.

И вообще, предоставление Изготовителем информации о реализации примененного в СИ метода измерения помогает Испытателю

более обоснованно определить состав и методы (Программу) испытаний.

Это что же за измеряемая величина для которой затруднительно или невозможно создать ЭТАЛОННУЮ величину???

Разве что "Измеритель численности населения на Марсе"

А вот предоставить доступ к исполняемому коду и протестировать его ИСПЫТАТЕЛЮ это просто!!!

Компьютерная грамотность!

Для чего тогда разработчики? Любои ГЦИ СИ проанализирует правильность выбранного алгоритма (особенно на

устойчивость), разработает "эталонное ПО" ( т.е которое заведомо лучше чем тестируемое! Зачем тогда тестируемое ПО?),

подберет опорное ПО, проверит погрешности счета арифметики, даст заключение о влиянии ПО на метрологические

характеристики...!

Прям какоето Министерство по разработке новой техники! Всех в Сколково!!!

Здесь на форуме присутствовал представитель фирмы Маркет Гейт (оказывающи услуги по сертификации СИ), так они ещё и

рекомендации предлагали давать если СИ не проходит климатические испытания!

Но потом всетаки выясняется - всё это должен предоставить Заявитель!

[Dudik 4]

Странно одно!!! что все забывают, что мы живем в России, а соответственн никто не думает о конфиденциально коммерческой информации, как можно отдать свои принципиалные схемы, алгоритмы ПО и какая должна быть детализация?

Еще очень понравилось примечание в МИ 3286 "Встроенное ПО рассматривается все как метрологчески значимая часть", т.е. данная формулировка подразумевает, что во встроенное ПО нельзя даже в библиотеки вносить изменения!!! отлично, но посмотрим на международную практику!!! возмем Windows сколько раз в год мы скачиваем обновления, да чуть ли не каждый день, как часто исправляются элементарные ошибки алгоритмов, при всем при том, что ПО может и 10 лет отработат без ошибочно, и теперь представьте, если бы MicroSoft ежедневно проводило сертификацию ПО :D

РОССИИЯ!

И самое веселое во всем этом, если уж говорить о подтверждении соответствя, то обратимся к ФЗ №184 "О техническом регулировании", посмотрим приципы технического регулирования:

соответствия технического регулирования уровню развития национальной экономики, развития материально-технической базы, а также уровню научно-технического развития;, о каком развитии будет идти речь, если исправил ошибку в ПО или внес справочную информацию в библиотеку программы - иди проводи испытания, стоит задумать!!!!

[Маслов В.А. 101]

Это что же за измеряемая величина для которой затруднительно или невозможно создать ЭТАЛОННУЮ величину???

Вот, что значит разные точки зрения на один и тот же вопрос (предмет)!

Я говорил о задании ряда необходимых значений эталонной величины. Взять туже толщину диэлектрических покрытий, с каким шагом Вы можете обеспечить ее изменение для эталона?

А вот предоставить доступ к исполняемому коду и протестировать его ИСПЫТАТЕЛЮ это просто!!!

Компьютерная грамотность!

Для чего тогда разработчики? Любои ГЦИ СИ проанализирует правильность выбранного алгоритма (особенно на

устойчивость), разработает "эталонное ПО" ( т.е которое заведомо лучше чем тестируемое! Зачем тогда тестируемое ПО?),

подберет опорное ПО, проверит погрешности счета арифметики, даст заключение о влиянии ПО на метрологические

характеристики...!

А зачем вообще Испытатель, ведь Разработчик все разработал, проверил и испытал во всех режимах и условиях, бери и применяй.

Но не Разработчик и Испытатель устанавливают эти требования.

С моей точки зрения обсуждать далее эту тему имеет смысл только с учетом конкртетных исходных данных, а не в общем.

[Дмитрий Борисович 1016]

Это что же за измеряемая величина для которой затруднительно или невозможно создать ЭТАЛОННУЮ величину???

Вот, что значит разные точки зрения на один и тот же вопрос (предмет)!

Я говорил о задании ряда необходимых значений эталонной величины. Взять туже толщину диэлектрических покрытий,

с каким шагом Вы можете обеспечить ее изменение для эталона?

С моей точки зрения обсуждать далее эту тему имеет смысл только с учетом конкртетных исходных данных, а не в общем.

Давайте на моем примере обсуждать детально....

1.Сколько точек значений эталонных толщин ДОСТАТОЧНО при проведении испытаний?

По всем НТД вродебы считается не менее 3-х точек на поддиапазоне. Тогда считаем для нашего случая - 9 пластин!

Затруднительно? Или невозможно? Мало того их можно сделать из радиочастотной керамики наборными...

2.Мало того, можно ограничиться и меньшим числом эталонных пластин. Применив для тестирование ПО метод имитации

начальных приращений толщины, с дальнейшим сравнением показаний толщиномера при измерении стандартных пластин из

комплекта пластин поверочных.

3.А вот ввести "эталонные данные" в микроконтроллер у которого 20 выводов ( два занято питанием, два занято кварцем,

два занято для связи с внешней EEPROM, три заняты для вывода на ЖКИ-индикатор, два заняты обслуживанием кнопок "ВКЛ"

и "ПУСК", один занят контролем разряда баттареи, один занят начальным запуском, один занят удержанием

вкючени/выключение преобразователя напряжения питания)- проблема! Кроме того микроконтроллер должен иметь еще

подпрограмму которая понимает что ему вводят цифровые "эталонные данные"

4.Можно конечно попытаться сформировать "эталонные данные" внешним генератором с шагом перестройки 0,0001Гц.

Но как "заставить" прибор понять режим рабочей калибровки, что бы он правильно начал проводить кусочно-линейную

аппроксимацию "зашитую" при выпуске прибора для конкретного индуктивного датчика.Характеристика НЕЛИНЕЙНА!!!

Мы НЕ знаем их зависимость между собой (имеется ввиду взаимосвязь начальной и конечной точки характеристики)!

Так что будем создавать "эталонное" ПО, опорное ПО, генерировать "эталонные данные"?

Или проще изготовим 9 эталонных пластин, присвоим им истинные значения толщин ( да хоть с точностью 0,01мкм) и СПОКОЙНО

проведем испытания для цели утверждения типа СИ, с подтверждением всех метрологических характеристик.

P.S. В одном из посланий Вы предлагали проверку точности алгоритмов проводить с помощью таблиц Excel.

Но на каком основании Вы будите ими пользоваться если у Вас например произошло обновление. Их нужно

протестировать!

Тоже касается и приложения Mathcad! Сколько у неё имеется "глюков" в зависимости с какими диапазонами чисел

работаете, с каким шагом задана перестройка входного параметра для построения графиков....

[Маслов В.А. 101]

Давайте на моем примере обсуждать детально....

1.Сколько точек значений эталонных толщин ДОСТАТОЧНО при проведении испытаний?

По всем НТД вродебы считается не менее 3-х точек на поддиапазоне. Тогда считаем для нашего случая - 9 пластин!

Затруднительно? Или невозможно? Мало того их можно сделать из радиочастотной керамики наборными.

1. пластин действительно может хватить 3-х на поддиапазон, но с определенными значениями толщины от верхнего предела измерений поддиапазона: до 0,1-0,2; 0,4-0,6 и 0,8-0,95. Хорошо бы еще посмотреть чувствительность к изменению толщины (дискретность) в нижней части самого чувствительного поддиапазона.

Сделать эталонные пластины наборными можно, а как быть с утверждением их типа?

2.Мало того, можно ограничиться и меньшим числом эталонных пластин. Применив для тестирование ПО метод имитации

начальных приращений толщины, с дальнейшим сравнением показаний толщиномера при измерении стандартных пластин из

комплекта пластин поверочных.

2. Не совсем понял о какой имитации идет речь. Если об использовании пластин не утвержденного типа из материала с известными свойствами, реальная толщина которых измеряется толщиномером, то я считаю, что при испытаниях (но не при поверке) их использовать можно.

3.А вот ввести "эталонные данные" в микроконтроллер у которого 20 выводов ( два занято питанием, два занято кварцем,

два занято для связи с внешней EEPROM, три заняты для вывода на ЖКИ-индикатор, два заняты обслуживанием кнопок "ВКЛ"

и "ПУСК", один занят контролем разряда баттареи, один занят начальным запуском, один занят удержанием

вкючени/выключение преобразователя напряжения питания)- проблема! Кроме того микроконтроллер должен иметь еще

подпрограмму которая понимает что ему вводят цифровые "эталонные данные"

3. А это зачем, я такого не предлагал.

4.Можно конечно попытаться сформировать "эталонные данные" внешним генератором с шагом перестройки 0,0001Гц.

Но как "заставить" прибор понять режим рабочей калибровки, что бы он правильно начал проводить кусочно-линейную

аппроксимацию "зашитую" при выпуске прибора для конкретного индуктивного датчика.Характеристика НЕЛИНЕЙНА!!!

Мы НЕ знаем их зависимость между собой (имеется ввиду взаимосвязь начальной и конечной точки характеристики)!

4. Согласен, но я такого тоже не предлагал.

Так что будем создавать "эталонное" ПО, опорное ПО, генерировать "эталонные данные"?

Или проще изготовим 9 эталонных пластин, присвоим им истинные значения толщин ( да хоть с точностью 0,01мкм) и СПОКОЙНО

проведем испытания для цели утверждения типа СИ, с подтверждением всех метрологических характеристик.

Лучше всего экспериментальная проверка. Но как быть с утверждением типа эталонных пластин или этого не требуется?

P.S. В одном из посланий Вы предлагали проверку точности алгоритмов проводить с помощью таблиц Excel.

Но на каком основании Вы будите ими пользоваться если у Вас например произошло обновление. Их нужно

протестировать!

Тоже касается и приложения Mathcad! Сколько у неё имеется "глюков" в зависимости с какими диапазонами чисел

работаете, с каким шагом задана перестройка входного параметра для построения графиков....

Хотя об этом говорил я, но это не мое предложение, а общепринятая практика использовать широко применяемое ПО, так как оно считается по умолчанию протестированным широким применением (см. п.4.5.2 последний абзац МИ 3286-2010 - ПО для решения задач технических вычислений (например, электронные таблицы, ПО для математических и статистических вычислений и т.д.).

[Дмитрий Борисович 1016]

Раз пошел предметный разговор .....

1.

Хорошо бы еще посмотреть чувствительность к изменению толщины (дискретность) в нижней части самого чувствительного поддиапазона.

Для чего??? Если погрешность измерения записана +/-50мкм! Вы будите смотреть дискретность если 10мкм!

2.

Сделать эталонные пластины наборными можно, а как быть с утверждением их типа?

а)Утверждать тип пластин и НЕ нужно! Их толщины предварительно промеряются например толщиномером ТР-10 или микрометром

МК25 кл.1.(пластинам присваиваются истинные значения толщин).

б)Можно сделать приспособление которое поднимает(перемещает) толщиномер с помощью микрометрической головки относительно

основания (поверхности измерения).Т.е. измерять воздушный зазор между поверхностью датчика ИТДП-11 и опорной

поверхностью. Тогда вообще получите любые значения толщин!

Естественно при ПОВЕРКЕ достаточно набора пластин с утвержденным типом микрометра, с помощью которого определяется

истинное значение толщины пластин поверочных!

3.

2. Не совсем понял о какой имитации идет речь. Если об использовании пластин не утвержденного типа из материала с известными свойствами,

Насчет утверждения типа пластин уже разъяснил....

Из какого мателиала? Да без разницы, лишь бы ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ!!! Это вихретоковые толщиномеры!!!

Иммитация? Чтобы это понять, нужно осознать ЦЕЛЬ программного обеспечения данного вида СИ.

Индуктивные датчики, НЕ дифференциальные, по своей природе, линейную зависимость частоты от зазора между своей

измерительной поверхностью и основанием (на котором находится диэлектрическое покрытие) имеют в очень малом

диапазоне значений - обычно не более 1мм. При построении толщиномеров с диапазоном до 10мм - эта характеристика

ВСЕГДА нелинейна(экспонента). Кроме того основания на которых находится покрытие может быть выполнено из стали

различных марок (разные удельные проводимости).Дополнительно имеются воздействие окружающей температуры.

Для того чтобы "линеаризировать" характеристику датчика, учесть различные материалы основания, и обеспечить

температурную стабильность и применяются вычислительные методы, т.е. вводится программное обеспечение в данный тип

средств измерений. И это не только у нас. Это специфика данных типов СИ. Только наличие ПО в данных типах СИ позволило

избавиться от рутинной каждодневной (а порою и ежечасной) рабочей калибровки прибора,позволило оперативно

переходить на различные типы материалов основания и т.д.

Каким же образом оценить вычислительные погрешности данных видов СИ ( а они и определяют метрологические

характеристики заложенные в ТУ, описании типа...)? Все методы предложенные в МИ 3286-2010 неудовлетворяют по

невозможности их реализации для однокристальных микропроцессоров.

Тогда остается одно - заставить ПО отрабатывать "искусственные" дополнительные смещения. Т.е. измерение толщин

поверочных пластин проводить не относительно основания, а вводя некоторые дополнительные смещения, с неизвестной

толщиной.На этой поверхности проводится рабочая калибровка и дальнейшее измерение "эталонных" пластин.

Погрешность измерения толщин "эталонных" пластин должна остаться в пределах нормируемого допуска.

4.

. А это зачем, я такого не предлагал.

Я и не говорю что это ВЫ предлагали!!!

Это написано в соответствии с рекомендациями в МИ 3286-2010.....

5.

а общепринятая практика использовать широко применяемое ПО, так как оно считается по умолчанию протестированным широким применением

Практика практикой! Но у Вас ПК подключен к Интернет. В любой момент может произойти обновление ПО.

Значит после этого вы должны будите ПЕРЕПРОВЕРИТЬ свой ПК на точности выполнения указанных приложений :YES:

[Маслов В.А. 101]

1.Для чего??? Если погрешность измерения записана +/-50мкм! Вы будите смотреть дискретность если 10мкм!

Чувствительность и погрешность разные показатели. Первая характеризует способность СИ различать две близко лежащие величиы, а вторая ошибку в измерении значения данной величины.

Смотреть буду, а с учетом ответа 3 во всех поддиапазонах измерений, тем более, что это достаточно просто реализовать по ответу 2б).

2. а)Утверждать тип пластин и НЕ нужно! Их толщины предварительно промеряются например толщиномером ТР-10 или микрометром

МК25 кл.1.(пластинам присваиваются истинные значения толщин).

б)Можно сделать приспособление которое поднимает(перемещает) толщиномер с помощью микрометрической головки относительно

основания (поверхности измерения).Т.е. измерять воздушный зазор между поверхностью датчика ИТДП-11 и опорной

поверхностью. Тогда вообще получите любые значения толщин!

Естественно при ПОВЕРКЕ достаточно набора пластин с утвержденным типом микрометра, с помощью которого определяется

истинное значение толщины пластин поверочных!

Впервые в своей практике встречаюсь со случаем, когда нет необходимости утверждать тип для эталонов. Это только упрощает испытания.

3.Насчет утверждения типа пластин уже разъяснил....

Из какого мателиала? Да без разницы, лишь бы ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ!!! Это вихретоковые толщиномеры!!!

Иммитация? Чтобы это понять, нужно осознать ЦЕЛЬ программного обеспечения данного вида СИ.

Индуктивные датчики, НЕ дифференциальные, по своей природе, линейную зависимость частоты от зазора между своей

измерительной поверхностью и основанием (на котором находится диэлектрическое покрытие) имеют в очень малом

диапазоне значений - обычно не более 1мм. При построении толщиномеров с диапазоном до 10мм - эта характеристика

ВСЕГДА нелинейна(экспонента). Кроме того основания на которых находится покрытие может быть выполнено из стали

различных марок (разные удельные проводимости).Дополнительно имеются воздействие окружающей температуры.

Для того чтобы "линеаризировать" характеристику датчика, учесть различные материалы основания, и обеспечить

температурную стабильность и применяются вычислительные методы, т.е. вводится программное обеспечение в данный тип

средств измерений. И это не только у нас. Это специфика данных типов СИ. Только наличие ПО в данных типах СИ позволило

избавиться от рутинной каждодневной (а порою и ежечасной) рабочей калибровки прибора,позволило оперативно

переходить на различные типы материалов основания и т.д.

Каким же образом оценить вычислительные погрешности данных видов СИ ( а они и определяют метрологические

характеристики заложенные в ТУ, описании типа...)? Все методы предложенные в МИ 3286-2010 неудовлетворяют по

невозможности их реализации для однокристальных микропроцессоров.

Тогда остается одно - заставить ПО отрабатывать "искусственные" дополнительные смещения. Т.е. измерение толщин

поверочных пластин проводить не относительно основания, а вводя некоторые дополнительные смещения, с неизвестной

толщиной.На этой поверхности проводится рабочая калибровка и дальнейшее измерение "эталонных" пластин.

Погрешность измерения толщин "эталонных" пластин должна остаться в пределах нормируемого допуска.

Спасибо за просвещение!

Я в случаях аналогичных Вашему пишу в Протоколе испытаний по данному разделу Программы испытаний: "Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений (см. Протокол№Х)".

4. Это написано в соответствии с рекомендациями в МИ 3286-2010.....

См. предыдущий ответ.

5.

а общепринятая практика использовать широко применяемое ПО, так как оно считается по умолчанию протестированным широким применением

Практика практикой! Но у Вас ПК подключен к Интернет. В любой момент может произойти обновление ПО. Значит после этого вы должны будите ПЕРЕПРОВЕРИТЬ свой ПК на точности выполнения указанных приложений :YES:

Во-первых не все ПК подключены к Интернету. Во-вторых у тех ПК, которые подключены к Интернету, выключен режим автоматического обновления ПО, а используется режим уведомления об изменениях. В-третьих в испытаниях в основном используем ноутбуки, которые не подключаются в компьютерную сеть.

[Дмитрий Борисович 1016]

Мне достаточно грусно отвечать, но всё равно продолжу...

Объясню почему.

Все эти вопросы прошли ещё в 1993...1998г. при утверждении ежегодных единичных партий по 50шт.

В 1998г. при утверждении типа на серийное производство....

Всё просто прошло в 2002г. и 2006г.. НИКАКИХ вопросов!!!!

И вот новые испытания, новые МИ, новые люди в ГЦИ СИ.....

Вопросы пошли по кругу.....

Почему продолжаю ответы? Да это своеобразная тренировка отвечать на вопросы которые задают сейчас не только ВЫ.

Наверное нужно начать еще с предыстории и назначении данных видов СИ.

В СССР существовал ГОСТ 8.502-84 ТОЛЩИНОМЕРЫ ПОКРЫТИЙ МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ПОВЕРКИ:

Настоящий стандарт распространяется на толщиномеры металлических и неметаллических покрытий на металлических и

неме-таллических основаниях (далее — толщиномеры) по ГОСТ 22555—77 и ГОСТ 25335—82 в диапазоне измерений толщины,

покрытия 1—20000 мкм и устанавливает методику их первичной и периодической поверок.

И существовали меры толщины покрытий 25177—82 ( к сожалению только до 1мм)

Кроме этого была установка типа УПТП:

диапазон воспроизводимых толщин — 0—20 мм;

допускаемая основная погрешность измерения в диапазоне:

0—0,05 мм — не более ±0,6 мкм,

0,05—'2,00 мм — не более ±2,5 мкм,

2,0—20,0 мм — не более ±20,0 мкм;

К сожалению условный диаметр преобразователей поверяемых толщиномеров (размер, обеспечивающий крепление

преобразователей) — 10—40 мм, тоже НЕ обеспечивает некоторые типы толщиномеров.

Третий способ поверки толщиномеров с помощью длиномера типа ИЗВ-З: диапазон измерений — 0—250 мм; Но погрешность

начинается от 1,2мм!

Так вот в 1993г. данные ГОСТы отменены! Мер толщин НЕТ!(Обратите внимание что я говорю про ВИХРЕТОКОВЫЕ толщиномеры).

Для ультрозвуковых или ренгеновских ситуация совсем другая в тех же годах наоборот более значимая детализация по

нормировки метрологических характеристик, проведении испытаний и оценки результатов измерения.

Но в тоже время КТО нам мешает воспользоваться теми ГОСТами которые были при написании своих документов ТУ, методики проведения испытаний...

Прежде чем продолжить дальше хочу подчеркнуть еще раз речь идет не о приборах измерения линейных размеров котактным

способом (например микрометр), а о приборах неразрушающего контроля вихретоковых предназначенных для измерения

покрытий нанесенных на кокоето основание ( ферромагнитное или диамагнитное). И как правило НЕТ доступа к другой

стороны даже основания.

Чувствительность и погрешность разные показатели. Первая характеризует способность СИ различать две близко лежащие величиы, а вторая ошибку в измерении значения данной величины.

Основы измерений, принципов построения приборов и метрологии....

В то же время для толщиномеров вихретоковых, у которых измеряемая величина (толщина) пересчитывается исходя из

значений изменения частоты индуктивного датчика включенного в колебательный контур свободного генератора (например у

одночастотного преобразователя) говорить о проверки разрешающей способности не совсем корректно.

Ведь измеряемая величина расчетная и "разрешающая" способность это просто чило до которого округляют

показание после расчета! Оно может уже иметь погрешность +/50мкм! Тем более при кусочно-линейной аппроксимации.

Пример на числах. Провели измерение эталона 1мм. Пусть погрешност в этой точке отсутствует.Показание "1,00мм".

Ввели смещение 0,01мм (10мкм). Прибор может показать "1,01мм". Но в тоже время может показать и "1,03мм".

И всё это в допуске!

Впервые в своей практике встречаюсь со случаем, когда нет необходимости утверждать тип для эталонов.

Для чего иметь эталоны пластин (и соответственно их утверждать) , когда в качестве "эталона" выступает микрометр

МК-25 кл.1!!!???

Смотреть буду, а с учетом ответа 3 во всех поддиапазонах измерений, тем более, что это достаточно просто реализовать по ответу 2б).

Даже советский ГОСТ этого НЕ ТРЕБОВАЛ!!!

А про "просто реализовать" - см. установку типа УПТП приведенную выше. Есть определённые трудности по обеспечению

крепления прибора в зависимости от габаритных размеров датчика. А в нашем приборе нужно учитывать еще то что

датчик встроенный в прибор ( не выносной!). Дополнительно при таком методе испытаний возникают вопросы по краевым

эффектам и учете влияния на датчик посторонних металлических предметов. Но это детали....

Я в случаях аналогичных Вашему пишу в Протоколе испытаний по данному разделу Программы испытаний: "Влияние ПО

на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений (см.

Протокол№Х)".

Отвечу словами Дедюхина А.А.:

Владимир Алексеевич, мы уже по второму кругу пошли ...

С чего всё началось????

С определения НЕОБХОДИМОГО случая....

И кто берет на себя ответственность НЕ включать в программу....

А такая запись приводит к испытаниям которые были до введения МИ 3290-2010 и МИ 3286-2010!

УРА!!!! Вы сами нашли как НЕ ВЫПОЛНЯТЬ ( или "выполнить гладко") действующие НТД!!!!

[Маслов В.А. 101]

Мне достаточно грусно отвечать, но всё равно продолжу...

Объясню почему.

Все эти вопросы прошли ещё в 1993...1998г. при утверждении ежегодных единичных партий по 50шт.

В 1998г. при утверждении типа на серийное производство....

Всё просто прошло в 2002г. и 2006г.. НИКАКИХ вопросов!!!!

И вот новые испытания, новые МИ, новые люди в ГЦИ СИ.....

Вопросы пошли по кругу.....

Почему продолжаю ответы? Да это своеобразная тренировка отвечать на вопросы которые задают сейчас не только ВЫ.

Наверное нужно начать еще с предыстории и назначении данных видов СИ.

В СССР существовал ГОСТ 8.502-84 ТОЛЩИНОМЕРЫ ПОКРЫТИЙ МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ПОВЕРКИ:

Настоящий стандарт распространяется на толщиномеры металлических и неметаллических покрытий на металлических и

неме-таллических основаниях (далее — толщиномеры) по ГОСТ 22555—77 и ГОСТ 25335—82 в диапазоне измерений толщины,

покрытия 1—20000 мкм и устанавливает методику их первичной и периодической поверок.

Так вот в 1993г. данные ГОСТы отменены! Мер толщин НЕТ!(Обратите внимание что я говорю про ВИХРЕТОКОВЫЕ толщиномеры).

Благодарю еще раз за просвещение! У меня аналогичный интерес.

Я солгасен, что в случаях отмены НТД без замены, всегда возникают проблемы.

Вы можете в своих ТУ использовать "куски" ранее действующих ГОСТов, но без ссылки на них.

Интересно в какую поверочную схему входит сейчас Ваш прибор? Ведь ее надо будет указать в проекте описании типа.

Основы измерений, принципов построения приборов и метрологии....

В то же время для толщиномеров вихретоковых, у которых измеряемая величина (толщина) пересчитывается исходя из

значений изменения частоты индуктивного датчика включенного в колебательный контур свободного генератора (например у

одночастотного преобразователя) говорить о проверки разрешающей способности не совсем корректно.

Ведь измеряемая величина расчетная и "разрешающая" способность это просто чило до которого округляют

показание после расчета! Оно может уже иметь погрешность +/50мкм! Тем более при кусочно-линейной аппроксимации.

Пример на числах. Провели измерение эталона 1мм. Пусть погрешност в этой точке отсутствует.Показание "1,00мм".

Ввели смещение 0,01мм (10мкм). Прибор может показать "1,01мм". Но в тоже время может показать и "1,03мм".

И всё это в допуске!

Согласен, главное, чтобы не показал "1,51 мм". Вот это и надо проверить, тем более это проверялось при предыдущих испытаниях на соответствие утвержденному типу (если я Вас правильно понял).

Для чего иметь эталоны пластин (и соответственно их утверждать) , когда в качестве "эталона" выступает микрометр

МК-25 кл.1!!!???

Даже советский ГОСТ этого НЕ ТРЕБОВАЛ!!!

А про "просто реализовать" - см. установку типа УПТП приведенную выше. Есть определённые трудности по обеспечению

крепления прибора в зависимости от габаритных размеров датчика. А в нашем приборе нужно учитывать еще то что

датчик встроенный в прибор ( не выносной!). Дополнительно при таком методе испытаний возникают вопросы по краевым

эффектам и учете влияния на датчик посторонних металлических предметов. Но это детали....

Уже и не знаю по какому кругу пошли. То просто, то есть определенные трудности. Не вижу смыла продолжать обсуждение этого вопроса.

Я в случаях аналогичных Вашему пишу в Протоколе испытаний по данному разделу Программы испытаний: "Влияние ПО

на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений (см.

Протокол№Х)".

Отвечу словами Дедюхина А.А.:

Владимир Алексеевич, мы уже по второму кругу пошли ...

С чего всё началось????

С определения НЕОБХОДИМОГО случая....

И кто берет на себя ответственность НЕ включать в программу....

А такая запись приводит к испытаниям которые были до введения МИ 3290-2010 и МИ 3286-2010!

УРА!!!! Вы сами нашли как НЕ ВЫПОЛНЯТЬ ( или "выполнить гладко") действующие НТД!!!!

Вы правильно заметили и Программа содержит требования и взята на себя отвественность (понятно кем) по методу их подтверждения.

[svdorb 219]

Я в случаях аналогичных Вашему пишу в Протоколе испытаний по данному разделу Программы испытаний: "Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений (см. Протокол№Х)".

Случай, когда влияние ПО на МХ СИ оценивается в ходе испытаний с целью утверждения типа:

в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений

т.е., когда программно-аппаратное СИ, рассматривается как "черный ящик" для измерительных систем предусмотрен в ГОСТ Р 8.596-2002, п.7.4:

7.4 Программы, реализуемые вычислительным компонентом, подлежат метрологической аттестации в соответствии с [19], если они влияют на результаты и погрешности измерений, но при этом не использованы в процессе экспериментальной проверки измерительных каналов при испытаниях ИС или комплексного компонента или предусмотрена возможность модификации этих программ в процессе эксплуатации ИС. Программы должны быть защищены от несанкционированного доступа.

Выделенный текст красным, как раз и говорит о том, что если МХ программно-аппаратного СИ нормированы вместе с ПО и это проверялось в ходе испытаний с целью утверждения типа, то влияние ПО на МХ такого СИ отдельно оценивать не нужно.

Ввиду того, что в приказе Минпромторга №1081, есть жесткое требование в свидетельстве об утверждении типа оценивать влияние ПО на МХ, то такую фразу или аналогичную, следует писать и в описании типа:

Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений

Изменено 19 Февраля 2011 пользователем svdorb

[Маслов В.А. 101]

т.е., когда программно-аппаратное СИ, рассматривается как "черный ящик" для измерительных систем предусмотрен в ГОСТ Р 8.596-2002, п.7.4:

7.4 Программы, реализуемые вычислительным компонентом, подлежат метрологической аттестации в соответствии с [19], если они влияют на результаты и погрешности измерений, но при этом не использованы в процессе экспериментальной проверки измерительных каналов при испытаниях ИС или комплексного компонента или предусмотрена возможность модификации этих программ в процессе эксплуатации ИС. Программы должны быть защищены от несанкционированного доступа.

Уважаемый Владимир Дмитриевич, спасибо за участие в обмене мнениями.

Ваши ссылка распространяется только на измерительные системы, но и эта инфомация важна при их испытаниях в целях утверждения типа.

Ввиду того, что в приказе Минпромторга №1081, есть жесткое требование в свидетельстве об утверждении типа оценивать влияние ПО на МХ, то такую фразу или аналогичную, следует писать и в описании типа:

Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений

Требовния к оформлению проекта описания типа после приказа №1081 конкретизированы в МИ 3290-2010. Как раз необходимость обязательного заполнения таблицы по п. 6.2.4е данного МИ при наличии встроенного ПО и вызывает основные проблемы, особенно когда Изготовитель (чаще всего зарубежный) отказывается предоставлять информацию ссылаясь на ноу-хау или коммерческую тайну.

[svdorb 219]

Ваши ссылка распространяется только на измерительные системы, но и эта инфомация важна при их испытаниях в целях утверждения типа.

Требовния к оформлению проекта описания типа после приказа №1081 конкретизированы в МИ 3290-2010. Как раз необходимость обязательного заполнения таблицы по п. 6.2.4е данного МИ при наличии встроенного ПО и вызывает основные проблемы, особенно когда Изготовитель (чаще всего зарубежный) отказывается предоставлять информацию ссылаясь на ноу-хау или коммерческую тайну.

Владимир Алексеевич, если я Вас правильно понял, Вы считаете, что оценка влияния ПО на МХ ИК ИС обязательно должна проводиться только по МИ 3286 - т.е.,практически, должна проводиться аттестация ПО (остальные СИ пока опустим - ГОСТ Р 8.596 распространяется только на ИС) - и, в случае, если МХ ИК нормированы вместе с ПО и это проверялось в ходе испытаний с целью утверждения типа?

Особенно если учесть, что все эти НД, кроме приказа №1081, имеют одинаковый статус.

А приказ не конкретизирует каким способом следует определять это влияние...

А закон Об ОЕИ...- говорит в небходимых случаях.

Почему им не может быть технически верный способ, предусмотренный в ГОСТ Р 8.596 - оценивать влияние ПО на МХ программно-аппаратного средства в целом - вместе с ПО? В принципе, этот способ применим, по моему мнению, и к другим СИ...

Про обязательное представление данных, предусмотренных в таблице по п. 6.2.4е МИ 3290, так как это требование приказа, я не говорю - об обязательности их представления , в принципе, говорит тот же пункт 7.4 ГОСТ Р 8.596, только он не требует представления их в описании типа.

Изменено 19 Февраля 2011 пользователем svdorb

[Маслов В.А. 101]

Владимир Алексеевич, если я Вас правильно понял, Вы считаете, что оценка влияния ПО на МХ ИК ИС обязательно должна проводиться только по МИ 3286 - т.е.,практически, должна проводиться аттестация ПО (остальные СИ пока опустим - ГОСТ Р 8.596 распространяется только на ИС) - и, в случае, если МХ ИК нормированы вместе с ПО и это проверялось в ходе испытаний с целью утверждения типа?

Особенно если учесть, что все эти НД, кроме приказа №1081, имеют одинаковый статус.

А приказ не конкретизирует каким способом следует определять это влияние...

А закон Об ОЕИ...- говорит в небходимых случаях.

Почему им не может быть технически верный способ, предусмотренный в ГОСТ Р 8.596 - оценивать влияние ПО на МХ программно-аппаратного средства в целом - вместе ПО? В принципе, этот способ применим, по моему мнению, и к другим СИ...

Про обязательное представление данных, предусмотренных в таблице по п. 6.2.4е МИ 3290, так как это требование приказа, я не говорю - об обязательности их представления , в принципе, говорит тот же пункт 7.4 ГОСТ Р 8.596, только он не требует представления их в описании типа.

Во-первых, это не я так считаю, а указывает МИ 3290-2010 п. 6.2.4е:

"Приводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики средства измерений в соответствии с МИ 3286-2010 ... либо в виде исполнительной характеристики программного обеспечения, либо как относительное отличие результатов расчета, выполненного испытываемым программным обеспечением, от расчетов с использованием опорных программ".

Я то как раз согласен с Вами, Дмитрием Борисовичем и другими, кто высказывается против обязательности выше приведенных требований во всех случаях применения ПО в СИ. Тем более, что указанный Вами подход был регламентирован и в МИ 2955-2005.

Во-вторых, я также против необходимости заполнения всех столбцов таблицы по п. 6.2.4е МИ 3290, особенно когда эти данные невозможно или не имеет смысла контролировать на этапе эксплуатации СИ.

[svdorb 219]

Во-первых, это не я так считаю, а указывает МИ 3290-2010 п. 6.2.4е:

"Приводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики средства измерений в соответствии с МИ 3286-2010 ... либо в виде исполнительной характеристики программного обеспечения, либо как относительное отличие результатов расчета, выполненного испытываемым программным обеспечением, от расчетов с использованием опорных программ".

Я то как раз согласен с Вами, Дмитрием Борисовичем и другими, кто высказывается против обязательности выше приведенных требований во всех случаях применения ПО в СИ. Тем более, что указанный Вами подход был регламентирован и в МИ 2955-2005.

Во-вторых, я также против необходимости заполнения всех столбцов таблицы по п. 6.2.4е МИ 3290, особенно когда эти данные невозможно или не имеет смысла контролировать на этапе эксплуатации СИ.

Я не совсем понимаю, почему в описании типа вместо:

Приводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики средства измерений в соответствии с МИ 3286-2010 ... либо в виде исполнительной характеристики программного обеспечения, либо как относительное отличие результатов расчета, выполненного испытываемым программным обеспечением, от расчетов с использованием опорных программ

нельзя написать, например, Вашу фразу:

"Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений" ...?

Если ее написать в описании типа - формально требование приказа №1081 об определении влияния ПО будет, на мой взгляд, выполнено... (оценка влияния есть - есть...).

Это будет означать, что программно-аппаратное средство с такой записью в описании типа должно эксплуатироваться только с ПО ( версия, идентификационные признаки и т.д.), которое было на испытаниях...

А то, что требует МИ 3290 - это рекомендация...почему данное требование приказа №1081 должно быть выполнено именно так, как указано в МИ 3290 - по МИ 3286?

ГОСТ Р 8.596 ( правда только для ИС)- тоже имеет тот же статус...

На счет таблицы по п. 6.2.4е , скорее всего, не попляшешь...

На мой вгляд, отдельная оценка влияния ПО, предусмотреная МИ 3286, нужна только в том случае, если небходимо знать одельно МХ аппаратной части от программной. Например если рассматриваемое ПО будет использоваться с другим программно-аппаратным средством (естественно, если это возможно и нужно кому-то), причем только с таким, которое уже прошло испытания с целью утверждения типа без рассматриваемого ПО (т.е. в ходе испытаний с целью утверждения типа не определялось влияние данного ПО на МХ СИ).

Изменено 19 Февраля 2011 пользователем svdorb

[Маслов В.А. 101]

Я не совсем понимаю, почему в описании типа вместо:

Приводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики средства измерений в соответствии с МИ 3286-2010 ... либо в виде исполнительной характеристики программного обеспечения, либо как относительное отличие результатов расчета, выполненного испытываемым программным обеспечением, от расчетов с использованием опорных программ

нельзя написать, например, Вашу фразу:

"Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений" ...?

Если ее написать в описании типа - формально требование приказа №1081 об определении влияния ПО будет, на мой взгляд, выполнено... (оценка влияния есть - есть...).

Это будет означать, что программно-аппаратное средство с такой записью в описании типа должно эксплуатироваться только с ПО ( версия, идентификационные признаки и т.д.), которое было на испытаниях...

А то, что требует МИ 3290 - это рекомендация...почему данное требование приказа №1081 должно быть выполнено именно так, как указано в МИ 3290 - по МИ 3286?

ГОСТ Р 8.596 ( правда только для ИС)- тоже имеет тот же статус...

На счет таблицы по п. 6.2.4е , скорее всего, не попляшешь...

На мой вгляд, отдельная оценка влияния ПО, предусмотреная МИ 3286, нужна только в том случае, если небходимо знать одельно МХ аппаратной части от программной. Например если рассматриваемое ПО будет использоваться с другим программно-аппаратным средством (естественно, если это возможно и нужно кому-то), причем только с таким, которое уже прошло испытания с целью утверждения типа без рассматриваемого ПО (т.е. в ходе испытаний с целью утверждения типа не определялось влияние данного ПО на МХ СИ).

Запись в проекте описания типа об оценке влияния ПО с одной стороны должна быть только в случае, если в Программе испытаний она предусмотрена по п. 4.2.4 МИ 3290. Но с другой стороны при наличии ПО, используемого для получения результатов измерений, должен быть проверен его уровень защиты (А, В или С) по МИ 3286. А в перечень параметров, характеризующих уровень защиты включена и степень влияния ПО на метрологические характеристики СИ (п.п. 3 и 4 МИ 3286). Как проверять эту степень влияния есть раздел 4 МИ 3286.

Вот Вам и рекомендация...

[Данилов А.А. 1988]

Я не совсем понимаю, почему в описании типа нельзя написать, например:

"Влияние ПО на погрешность результатов измерений проверено в процессе определения диапазона и основной погрешности измерений" ...?

Почему? Всё просто: с такой фразой описание типа не будет подписано зам. руководителем Росстандарта...

Если уж провели указанную проверку влияния, то дайте результат этой проверки!

[Дмитрий Борисович 1016]

Вы можете в своих ТУ использовать "куски" ранее действующих ГОСТов, но без ссылки на них.

Интересно в какую поверочную схему входит сейчас Ваш прибор? Ведь ее надо будет указать в проекте описании типа.

Так оно и происходило, в ТУ практически многие формулировки ранее действующих ГОСТов...

Кроме того, нужно учитывать что до 1998г прибор выпускался в соответствии с ГОСТ 8.326

Привожу "Описание типа" который есть уменя в компьютере ( могу потом выложить с подписями и печатями...).

Также привожу документ ПЛАСТИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОВЕРОЧНЫЕ Руководство по экслуатации(КД5. 735. 001 ).

Как бы не относиться к ГОСТ 8.326, но суть его еще была в том что при отсутствии поверочной схемы средство

измерения все равно вписывалось в какуюто прослеживаемую методику передачи единицы измерения.

С отменой этого ГОСТа все средства измерения которые выпускались по нему, по логике вещей должны были бы

подвергаться КАЛИБРОВКЕ.Так как все прекрасно понимают что основное назначение подобных приборов это не

сферы ГРОЕ.

Но для этого, предприятиям использующие эти приборы нужно принимать свой стандарты предприятия, в которых

оговаривается законность применения этих СИ.Но это - ответственность! (опять ответственность...).

Предприятиям (даже типа Газпром, Транснефть...) гораздо проще получить прибор уже с ПОВЕРКОЙ.

А для этого мы (производители) должны пройти испытания утверждения типа....

ИТДП11описание.doc

Паспортпластиныповер .doc

[Дедюхин А.А. 359]

во ВНИИМСе 10 марта 2011 г. будет проходить семинар "О применении МИ 3290-2010" http://www.vniims.ru/news-list/news10032011.html

видимо там будут и авторы этого МИ, может кто-то там сможет ответить на конкретные вопросы?

[svdorb 219]

Почему? Всё просто: с такой фразой описание типа не будет подписано зам. руководителем Росстандарта...

Если уж провели указанную проверку влияния, то дайте результат этой проверки!

Александр Александрович! У нас что, в Росстандарте уже не понимают разницы между комплектной поверкой и поэлементной..?

[Данилов А.А. 1988]

во ВНИИМСе 10 марта 2011 г. будет проходить семинар "О применении МИ 3290-2010" http://www.vniims.ru/news-list/news10032011.html

видимо там будут и авторы этого МИ, может кто-то там сможет ответить на конкретные вопросы?

Кроме этого семинара, в марте-апреле 2011 г. запланированы аналогичные семминары в Новосибирске, Екатеринбурге и в Ростове-на-Дону.

На этих семинарах какие-то ответы (по МИ 3290) можно будет получить.

Кроме того, планируется внесение изменений в МИ 3290.

[Данилов А.А. 1988]

в Росстандарте уже не понимают разницы между комплектной поверкой и поэлементной..?

Понимают, конечно, но есть форма документа, в которой все поля должны быть заполнены

[svdorb 219]

Запись в проекте описания типа об оценке влияния ПО с одной стороны должна быть только в случае, если в Программе испытаний она предусмотрена по п. 4.2.4 МИ 3290. Но с другой стороны при наличии ПО, используемого для получения результатов измерений, должен быть проверен его уровень защиты (А, В или С) по МИ 3286. А в перечень параметров, характеризующих уровень защиты включена и степень влияния ПО на метрологические характеристики СИ (п.п. 3 и 4 МИ 3286). Как проверять эту степень влияния есть раздел 4 МИ 3286.

Вот Вам и рекомендация...

Владимир Алексеевич!

1. Наверное Вы имели ввиду не п.4.2.4 МИ 3290, а п.4.2.5. Но в нем говорится:

В разделе может также при необходимости предусмотрена оценка влияния программного обеспечения на метрологические характеристики средства измерений в соответствии с МИ 3286-2010..."

2. Я не нахожу ни из МИ 3290, а тем более из МИ 3286, что:

в перечень параметров, характеризующих уровень защиты включена и степень влияния ПО на метрологические характеристики

В МИ 3290 предусмотрены варианты..."при необходимости";

В законе Об ОЕИ предусмотрены врианты ....ст.9, часть 1...

"в необходимых случаях включаются также требования к их составным частям, программному обеспечению "

В приказе №1081 ...нет вариантов... есть ПО в СИ...дай оценку влияния на МХ в описании типа..!

Поэтому и предложил для:

[Ответ - "Нас в Москве не поймут!"

писать выше приведенную фразу...думал прокатит...

Александр Александрович!

Понимают, конечно, но есть форма документа, в которой все поля должны быть заполнены

так надо "формы документов" менять...

[Фёдоров_Ф 300]

так надо "формы документов" менять...

"Нет, батенька, здесь всю систему менять надо!"©